基本信息
| 标准名称： | 钨的光谱分析方法 |
| 英文名称： | Method for defermination of Tungsten by spectrometry |
| 中标分类： | 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理 |
| 替代情况： | SJ/Z 1319-1978 |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1986-01-21 |
| 实施日期： | 1986-10-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部744厂 |
| 起草人： | 藏明堂、王淑敏 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1986-09-01 |
| 页数： | 7页 |
适用范围
本标准适用于电子器件、电光源用钨材（粉、坏、杆、丝、带）、三氧化钨（不含添加剂）、钨酸及仲钨酸铵中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、铅、锡、钼、钛、锑、镉、砷、铜、铬等元素的测定。
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所属分类： 综合 标准化管理与一般规定 技术管理